山本典央( やまもとのりお

専門分野
EMC、電磁環境適合性、マイクロ波計測、高周波回路、アナログ回路
技術支援
担当機器:電波暗室、放射エミッション測定、放射イミュニティ試験、静電気放電試験器等EMC試験機器全般

研究

リチウムイオン二次電池用固体電解質の特性評価に関する研究

期間
平成24~28年度
概要
全固体リチウム二次電池用固体電解質の特性評価で必要となる高周波数帯域まで測定可能なインピーダンス測定治具および測定システムの開発。
実績
・平成26年度NEDO(国立研究開発法人 新エネルギー・産業技術総合開発機構)委託事業「新エネルギーベンチャー技術革新事業/新エネルギーベンチャー技術革新事業(燃料電池・蓄電池)/全固体電池・燃料電池向け固体電解質の交流インピーダンス測定治具・システムの開発」に採択(株式会社クオルテックとの共同研究)
・第8回オートモーティブワールドに「固体電解質に適したインピーダンス測定システム」を出展(株式会社クオルテックのブース)

超低EMIディスプレイシステムの実用化、および商品化(株式会社テクナートとの共同研究)

期間
平成26~28年度
概要
放射電磁界(Electro-Magnetic Interference: EMI)強度をEMI測定系暗ノイズ程度に抑えたスペクトラムアナライザ画面表示用ディスプレイの実用化および商品化。
実績
・テクノフロンティア2015 「EMC・ノイズ対策技術展」に超低EMIディスプレイシステム「zeroemi®」を出展,2015年5月20日-22日(株式会社テクノサイエンスジャパンのブース)

超低EMIディスプレイシステムの開発(株式会社テクナートとの共同研究)

期間
平成23~25年度
概要
放射電磁界(Electro-Magnetic Interference: EMI)強度をEMI測定系暗ノイズ程度に抑えたスペクトラムアナライザ画面表示用ディスプレイ、および映像伝送系の開発。

高密度パッケージIC検査ソケットの高周波特性評価手法に関する研究(大西電子株式会社との共同研究)

期間
平成20年~21年度
概要
高速動作するIC用検査ソケットの高周波特性評価技術の確立、および評価・解析結果に基く治具構造の改善
実績
・平成20年度JST(独立行政法人 科学技術振興機構)「重点地域研究開発推進プログラム(地域ニーズ即応型)/高速・高密度パッケージICに対応したIC検査ソケット治具の開発」に採択

静電気放電(ESD)試験に関する研究

期間
平成20~23年度
概要
人体から発生する静電気放電に対する電子機器の耐性を評価する試験は、国際規格IEC61000-4-2等で規格化されている。しかし、現行規格では、ESD試験の方法や試験器メーカあるいは試験器の型式によって試験の合否に再現性が取れない場合も少なくない。そこで、試験の再現性向上のために、現行規格の問題点の抽出およびESD試験器の特性等を評価した。
実績
・平成20年度JST(独立行政法人 科学技術振興機構)「シーズ発掘試験(A:発掘型)/高信頼性を実現する新規静電気放電試験機の開発に向けた研究」に採択
・“ESDガンの水平結合板への間接放電時に対する試験法の影響”,信学技報,Mar. 2008
・“ESDガンの垂直結合板への間接放電に対する誘導電圧波形の不確定性”,信学技報,Dec. 2008(名工大と共著)
・“水平結合板の間接放電時に対するESD試験法の供試品へ及ぼす影響,”信学会レター,Feb. 2009(名工大と共著)
・「いまさら聞けないEMC ~実は奥が深いESD試験~」,日本HDD協会 技術委員会 ESDコントロール部会 第31回にて講演,Feb. 2009
・“ESDガンの垂直結合板への間接放電に対するプリント回路基板上の配線誘導電圧の不確定性とその低減”,電気学会,Mar. 2010(名工大と共著)